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1.
Murakami, Katsuhisa ; Rommel, Mathias ; Yanev, Vasil ; Erlbacher, Tobias ; Bauer, Anton J. ; Frey, Lothar (
2011
)
A highly sensitive evaluation method for the determination of different current conduction mechanisms through dielectric layers
Journal of Applied Physics 110.5 (2011): 06.11.2012
Aufsatz
2.
Erlbacher, Tobias (
2008
)
Schichten hoher Dielektrizitätskonstante für den Einsatz in ladungsbasierten nichtflüchtigen Speicherzellen
Dissertation
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Letzte Änderung: 14.07.10