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Murakami, Katsuhisa ; Rommel, Mathias ; Yanev, Vasil ; Erlbacher, Tobias ; Bauer, Anton J. ; Frey, Lothar
(2011)
A highly sensitive evaluation method for the determination of different current conduction mechanisms through dielectric layers
Journal of Applied Physics 110.5 (2011): 06.11.2012
Aufsatz
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Murakami, Katsuhisa ; Rommel, Mathias ; Yanev, Vasil ; Bauer, Anton J. ; Frey, Lothar
(2011)
Current Voltage Characteristics through Grains and Grain Boundaries of High‐k Dielectric Thin Films Measured by Tunneling Atomic Force Microscopy
AIP Conference Proceedings 1395 (2011): S. 134-138. 06.11.2012
Aufsatz
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Letzte Änderung:
14.07.10 |
