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Rumler, Maximilian ; Rommel, Mathias ; Erlekampf, Jürgen ; Azizi, Maral ; Geiger, Tobias ; Bauer, Anton J. ; Meißner, Elke ; Frey, Lothar
(2012)
Characterization of grain boundaries in multicrystalline silicon with high lateral resolution using conductive atomic force microscopy
Journal of Applied Physics 112.3 (2012): 07.11.2012
Aufsatz
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Murakami, Katsuhisa ; Rommel, Mathias ; Yanev, Vasil ; Erlbacher, Tobias ; Bauer, Anton J. ; Frey, Lothar
(2011)
A highly sensitive evaluation method for the determination of different current conduction mechanisms through dielectric layers
Journal of Applied Physics 110.5 (2011): 06.11.2012
Aufsatz
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Murakami, Katsuhisa ; Rommel, Mathias ; Yanev, Vasil ; Bauer, Anton J. ; Frey, Lothar
(2011)
Current Voltage Characteristics through Grains and Grain Boundaries of High‐k Dielectric Thin Films Measured by Tunneling Atomic Force Microscopy
AIP Conference Proceedings 1395 (2011): S. 134-138. 06.11.2012
Aufsatz
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Rommel, Mathias
(2007)
Photostrom-Spektroskopie von Silicium im Volumen und an der Grenzfläche zu Siliciumdioxid
Dissertation
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Letzte Änderung:
14.07.10 |
