Universitätsbibliothek Erlangen Zur Homepage der Universitätsbibliothek Erlangen
Zur Homepage der Universität Erlangen

Eingang zum Volltext in OPUS


Hinweis zum Urheberrecht

Aufsatz zugänglich unter
URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus-38469
URL: http://www.opus.ub.uni-erlangen.de/opus/volltexte/2012/3846/


Approaching intrinsic performance in ultra-thin silicon nitride drum resonators

Adiga, Vivekananda P. ; Ilic, B. ; Barton, R. A. ; Wilson-Rae, Ignacio ; Craighead, H. G. ; Parpia, J. M.

Originalveröffentlichung: (2012) Journal of Applied Physics 112.6 (2012): 07.11.2012 <http://jap.aip.org/resource/1/japiau/v112/i6/p064323_s1>
pdf-Format:
Dokument 1.pdf (1.839 KB)


SWD-Schlagwörter: -
Freie Schlagwörter (Englisch): amorphous semiconductors , cooling , crystal resonators , light interferometry , membranes
PACS - Klassifikation: 85.85.+j , 07.10.Cm , 77.65.Fs , 85.40.Hp , 85.50.-n
Collection: Universität Erlangen-Nürnberg / Allianzlizenzen / 2012
Fakultät: Naturwissenschaftliche Fakultät
DDC-Sachgruppe: Physik
Dokumentart: Aufsatz
Sprache: Englisch
Erstellungsjahr: 2012
Publikationsdatum: 08.11.2012
Kurzfassung in Englisch: We have fabricated circular silicon nitride drums of varying diameter (20 μm to 1 mm) and thickness (15 nm–75 nm) using electron beam lithography and measured the dissipation (Q−1) of these amorphous silicon nitride resonators using optical interferometric detection. We observe that the dissipation is strongly dependent on mode type for relatively large, thick membranes as predicted by the current models of dissipation due to clamping loss. However, this dependence is drastically reduced for smaller or thinner resonators, with thinner resonators showing higher quality factors, for low order modes. Highest quality factors that can be reached for these thin resonators seems be limited by an intrinsic mechanism and scales linearly with the diameter of the membrane. Our results are promising for mass sensing and optomechanical applications where low mass and high Qs are desirable.


Home | Suchen | Veröffentlichen
 Sie benötigen weitere Informationen? Fragen Sie uns!


Letzte Änderung: 01.11.10